LED-raepistemittaus ja osatarkastus ovat tarpeellisia ja tärkeitä töitä LED-tuotteiden tuotantoprosessissa. LED-raepistemittausprosessissa käytetään mittapäätä. Se testataan ja osatarkastetaan yleensä useiden keskeisten arvojen, kuten sähköisen arvon, kirkkauden, aallonpituuden, ESD:n jne. mukaan, ja sitten suoritetaan pakkaustekniikka. Siksi se on tärkeä prosessi, jolla on huomattava vaikutus LEDien valmistuksen valmistuskustannuksiin. Sen tärkeimmät sovellusalueet ovat:
(1) Se soveltuu valosähköisten ominaisuuksien pistemittaukseen LED-raevalmistuksessa.
(2) Se soveltuu valosähköisten ominaisuuksien pistemittaukseen puolijohdelaserkomponenteissa, kuten VCSEL-, EELD- ja DFB-raevalmistuksessa.
(3) Se soveltuu valosähköisten ominaisuuksien pistemittaukseen valoa tunnistavissa komponenteissa, kuten valodiodeissa (PD), fototransistoreissa (PTR), Schottky-diodeissa ja Zener-diodirakeiden valmistuksessa.
